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上海恒平紫外可見分光光度計UV2400PC 產品說明 儀器簡介：
UV2400系列為小屏幕掃描型比例監(jiān)測雙光束紫外-可見分光光度計。全新的光學系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設計確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比�？蓾M足用戶多層次的分析應用需求。紫外-可見分光光度計計算機應用軟件為您的儀器實現更加強大的功能。

主要特點：
光度測量：定波長測試吸光度、透過率和濃度測量
光譜掃描：掃描速度可選，間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm)，峰/谷自動檢測，圖譜縮放等功能
定量測定：單波長法、一階線性標準曲線擬合，最多可建立9個標樣點的標準曲線
動力學測量(時間掃描)：對樣品進行動力學測試，測試間隔時間可選，可保存1800個測試數據點。

特點
持久的穩(wěn)定性：比例監(jiān)測雙光束光學系統(tǒng)，確保儀器長時間的穩(wěn)定
超低的雜散光：先進的光學系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質的光學元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測試更準確。
顯示操作人性化設計：大屏幕顯示器顯示數據、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。
自動比色架：自動八聯池可做更多樣品測定，大大提高了儀器測試速度
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需專用工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
豐富的可選附件：多種附件可供選擇，儀器測量范圍更加廣泛。
UV-Solution 3.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能。

技術參數：

型號	UV2400/UV2400PC
光學系統(tǒng)	比例監(jiān)測雙光束
光譜帶寬	1.8nm
波長范圍	190~1100nm
波長準確度	±0.3nm
波長重現性	0.2nm
光度范圍	T:0~200.00%T A:-0.301~4.0000Abs C:0~9999
光度準確度	±0.3%T
光度重復性	0.1%T
雜散光	≤0.05%T(220nm和340nm處)
基線直線性	±0.002A
基線漂移	0.001A/h(500nm處)
噪聲	100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T)